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Phasenmessende Deflektometrie

3D-Oberflächeninspektion und Defekterkennung

25.02.2025
von Redaktion DER KONSTRUKTEUR

Die 3D-Reflectcontrol-Sensoren von Micro-Epsilon bieten eine innovative Lösung zur Oberflächeninspektion und Defekterkennung auf hochreflektierenden und transparenten Flächen.

Durch phasenmessende Deflektometrie ermöglichen sie eine flächige Vermessung und liefern präzise Messergebnisse. Je nach Anwendung stehen Modelle für die 2D- und 3D-Auswertung zur Verfügung. Der RCS130-160 3D HLP ist speziell für Mess- und Inspektionsaufgaben in Produktionslinien optimiert und verfügt über eine GigE-Vision-Schnittstelle. Hierdurch liefert er die Daten GenICam-konform, wodurch eine nahtlose Integration in bestehende Bildverarbeitungssysteme möglich ist. Der Sensor liefert dank der verbesserten Kameraanordnung schärfere 2D-Bilder als sein Vorgängermodell sowie eine 3D-Darstellung von hochreflektierenden Oberflächen. Weiterhin können die Reflectcontrol-Sensoren zusammen mit der Micro-Epsilon-Software 3DInspect verwendet werden.

 

 

Text- und Bildquelle: Micro-Epsilon

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